贵金属检测系统设备反向开发克隆案例

发表时间:2020-12-16 09:25:12 人气:1730

分析元素范围:从铝(13号元素)到铀(92号元素)

元素分析含量范围:1ppm到100%

元素同时分析能力:35种元素

测量样品型态:固体,粉末,液体

探测器:美国AMPTEK原装进口高分辨率数字一体化X-123半导体探测系统,探测面积6mm2分辨率小于139eV,峰背比高,检测精度更高。

X光管: 自动水制冷系统,对各种元素激发效率更高

高压电源:最大功率50W,50kV,1mA

显示:配备高清液晶显示屏。

滤波片:6种滤波片与4种准直器自由自动切换。

密度检测系统:密度检测仪及检测软件一套,可以对样品的密度进行准确分析鉴定,从而实现对未知样品内部材料的定性定量分析(本系统具有唯一专利性)

镀层检测:仪器可对不同基体上的不同金属镀层进行多层检测,并得出准确结果(使用者可以根据需求进行二次开发)

样品成像定位系统:内置自动感光高像素摄像头及先进的定位软件,方便样品的局部定位测量

测量精度:以黄金样品为例

高含量样品 (含量在97%以上)误差<±0.1%

中高含量样品(含量在75%以上)误差<±0.1%-0.3%

低含量样品 (含量在75%以下)误差±<0.3%

可准确检测黄金99.9%与99.99%的样品。

 

加压:自动加载高压电流,自动预热并校正峰位,省去繁琐的操作。

测量时间:60秒到180秒可调,一键式快速测量3.5秒可出结果

测量次数:任意可调,且在多次测量时可做平均值及标准偏差测量

峰位:峰位稳定性高,8小时漂移小于0.5道。

定量分析方法:基本参数法,理论Alpha系数法,经验系数法,多元回归法等。其中基本参数法是在国内同行业率先采取此类综合计算方法。

定性分析方法:元素自动寻峰,Kl谱线标记法,峰谱比对法等

操作软件:开放的可供客户自行开发和升级的工作软件,使一机多能。

操作模式:一键式操作全电脑控制与人工选择测试方法两种测试模式,满足不同测试单位和测试人员的要求。一键式操作全电脑控制可自动判断被测贵金属的种类,省去人为判断的过程,提高了测量时间及有可能出现人为误判,进而大大提高了测量效率。

银铜双峰位校准:银,铜双峰位同时校准,使仪器校准更加精准,随时修正工作曲线,使测量结果达到最高精度(同行业中唯一采取此校准方法)

三重防辐射系统:配备光电快门装置,更换样品时X光管自动切断电压电流;样品仓打开,X光管快门自动闭锁;仪器多层屏蔽舱盖,有效防止X射线外溢(同行业中唯一采取三重防辐射系统)

温度控制系统:内部风冷水冷双循环冷却,最大限度降低X光管工作温度延长光管使用寿命,且保证仪器长时间工作稳定,测量精度准确

硬件结构:仪器双箱体结构,有效屏蔽干扰,增加仪器整体稳定性

超大样品仓:方便大型样品的检测

测试报告:测试报告根据客户要求独立设计

其他应用:增加ROHS、卤素等有毒有害物质的检测程序及贵金属有毒有害元素的检测程序。


此文关键字: pcb抄板

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