贵金属检测系统设备反向开发克隆案例
发表时间：2020-12-16 09:25:12 人气：1420
分析元素范围：从铝（13号元素）到铀（92号元素）
元素分析含量范围：1ppm到100%
元素同时分析能力：35种元素
测量样品型态：固体，粉末，液体
探测器：美国AMPTEK原装进口高分辨率数字一体化X-123半导体探测系统，探测面积6mm2分辨率小于139eV，峰背比高，检测精度更高。
X光管： 自动水制冷系统，对各种元素激发效率更高
高压电源：最大功率50W，50kV,1mA
显示：配备高清液晶显示屏。
滤波片：6种滤波片与4种准直器自由自动切换。
密度检测系统：密度检测仪及检测软件一套，可以对样品的密度进行准确分析鉴定，从而实现对未知样品内部材料的定性定量分析（本系统具有唯一专利性）
镀层检测：仪器可对不同基体上的不同金属镀层进行多层检测，并得出准确结果（使用者可以根据需求进行二次开发）
样品成像定位系统：内置自动感光高像素摄像头及先进的定位软件，方便样品的局部定位测量
测量精度：以黄金样品为例
高含量样品 （含量在97%以上）误差<±0.1%
中高含量样品（含量在75%以上）误差<±0.1%-0.3%
低含量样品 （含量在75%以下）误差±<0.3%
可准确检测黄金99.9%与99.99%的样品。
加压：自动加载高压电流，自动预热并校正峰位，省去繁琐的操作。
测量时间：60秒到180秒可调，一键式快速测量3.5秒可出结果
测量次数：任意可调，且在多次测量时可做平均值及标准偏差测量
峰位：峰位稳定性高，8小时漂移小于0.5道。
定量分析方法：基本参数法，理论Alpha系数法，经验系数法，多元回归法等。其中基本参数法是在国内同行业率先采取此类综合计算方法。
定性分析方法：元素自动寻峰，Kl谱线标记法，峰谱比对法等
操作软件：开放的可供客户自行开发和升级的工作软件，使一机多能。
操作模式：一键式操作全电脑控制与人工选择测试方法两种测试模式，满足不同测试单位和测试人员的要求。一键式操作全电脑控制可自动判断被测贵金属的种类，省去人为判断的过程，提高了测量时间及有可能出现人为误判，进而大大提高了测量效率。
银铜双峰位校准：银，铜双峰位同时校准，使仪器校准更加精准，随时修正工作曲线，使测量结果达到最高精度（同行业中唯一采取此校准方法）
三重防辐射系统：配备光电快门装置，更换样品时X光管自动切断电压电流；样品仓打开，X光管快门自动闭锁；仪器多层屏蔽舱盖，有效防止X射线外溢（同行业中唯一采取三重防辐射系统）
温度控制系统：内部风冷水冷双循环冷却，最大限度降低X光管工作温度延长光管使用寿命，且保证仪器长时间工作稳定，测量精度准确
硬件结构：仪器双箱体结构，有效屏蔽干扰，增加仪器整体稳定性
超大样品仓：方便大型样品的检测
测试报告：测试报告根据客户要求独立设计
其他应用：增加ROHS、卤素等有毒有害物质的检测程序及贵金属有毒有害元素的检测程序。
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